當(dāng)前位置:首頁 > 產(chǎn)品中心 > 膜厚儀 > Thetametrisis膜厚儀 > FR-uProbe-LC光學(xué)顯微鏡適配器
簡要描述:FR-uProbe-LC: 可測量小至幾微米的光斑尺寸應(yīng)用,例如微圖案表面、高粗糙度表面的樣品等等只需單擊鼠標(biāo)即可在 Vis/NIR波長范圍中測量微小區(qū)域薄膜厚度、光學(xué)常數(shù)、反射率、透射率和吸光度
產(chǎn)品分類
Product Category詳細(xì)介紹
介紹:
FR-uProbe-LC, 只需連接到大多數(shù)市售光學(xué)顯微鏡(反射率和/或透射率)的 C-Mount適配器,即可提供:
o 在顯微鏡支持的波長范圍內(nèi)進(jìn)行實(shí)時(shí)光譜測量
o 薄膜厚度、光學(xué)特性、不均勻性測量
o 使用集成、USB 連接的高分辨率和高質(zhì)量彩色相機(jī)進(jìn)行成像
o 不受顯微鏡本身性能影響
光斑尺寸(收集反射率或透射率信號(hào)的區(qū)域)由孔徑尺寸和物鏡放大倍率定義,可小至 2μm.
應(yīng)用:
o 大學(xué) & 研究實(shí)驗(yàn)室
o 半導(dǎo)體(氧化物、氮化物、Si、抗蝕劑等)
o MEMS 器件(光刻膠、硅膜等)
o 液晶顯示器LED
o 數(shù)據(jù)存儲(chǔ)
o 陽極氧化
o 彎曲基材上的硬/軟涂
o 聚合物涂料、粘合劑等
o 生物醫(yī)學(xué)(聚對二甲苯、導(dǎo)管壁厚等)
o 聯(lián)系我們您的應(yīng)用需求
特征:
o 單擊分析(無需初始值)
o 可以動(dòng)態(tài)連續(xù)測量
o 測量n & k、顏色座標(biāo)
o 數(shù)據(jù)庫內(nèi)建 700 多種材料
o 用于離線分析的多個(gè)安裝
o 免費(fèi)軟件更新
規(guī)格:
測量區(qū)域光斑(收集反射信號(hào)的區(qū)域)與物鏡和孔徑大小有關(guān), 標(biāo)準(zhǔn)孔徑尺寸為:500μm(方形)、250μm(方形)、100μm(方形).250μm為默認(rèn)孔徑值.可根據(jù)要求提供的其他孔徑尺寸:150μm(方形)和 50μm(方形).
測量原理:
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